德國IBA線對卡Type 39b
銷售產品編號：20211224-01

產品銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司

分辨率測試卡，致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

線對

一個線對由一根線條和一個間距組成,且間距的寬度等于線條的寬度,以一毫米寬度范圍內的線對數表示。

不同線對卡CT掃描時的差異分析

通常來說, 個細節特征能夠被發現需要的條件主要有:

(1)細節特征在射線方向上引起的射線變化能夠被 發現,此處發現的含義是該變化引起的 輸出信號變化要高于噪聲。細節特征與背景材料的線衰減系數差比較大,在投影方向上的尺寸大, 靈敏度高,信噪比高,散射線的散射比低等都有利于細節特征的發現。(2)在多少個投影方向上能被發現,如果在所有的投影方向上都被發現,其"回抹1的圖像就很清晰,可以認為圖像上細節與背景的顯示對比度就是線衰減系數的真實對比;反之如果只在部分投影方向上發現,細節就會被模糊,圖像上細節與背景的顯示對比度要低于細節材料本身線衰減系數與背景的真實對比度。隨著能發現的投影方向數目減小,模糊的越來越嚴重,直到徹底發現不了。此時低密度的細節在CT圖像上線衰減系數比實際增加,高密度的細節在CT圖像上線衰減系數比實際降低。
銷售產品編號：20211224-01

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