X光成像對比度測試卡
產品編號:20211202-10
銷售廠家:固安縣雙玉儀器有限公司
X線影像的形成,應具備以下三個基本條件:首先,X線應具有一定的穿透力;第二,被穿透的組織結構,必須存在著密度和厚度的差異;第三,這個有差別的剩余X線,仍是不可見的,還必須經過顯像這一過程。
對于增感屏的測試,線組只按一個方向排列的測試是足夠的:由于測試是在盒式磁帶上直接進行的,所以不期望在各個方向上的系統誤差,幾何的方向相關誤差不產生影響。
當使用散射輻射網格時,必須考慮到為了避免云紋效應,如果可能的話,線組與次級輻射網格條的角度應小于 45。
數字成像器件共同特性:
組成 的各個像素尺寸決定了成像系統的空間分辨率,以及射線劑量;數 都會有壞像素(包括壞點或壞行)對此必須其進行校正; 的不一致性的校正是獲得高像質困像的一個重要的技術環節;受環境的限制。
線與空間大小:3,4,5,6,7,8,9,10μm(T形布局)
2個圖案:15,20,25,30,35,40,45,50μm(僅為形狀)
L/S寬度:士15%(3, 4μm)
線和間距/線寬:3至50 um,16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局,上圖為大小為5μm L&S的圖像。Au狹縫數為3行2空間。
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產品編號:20211202-10
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X光成像對比度測試卡