X射線成像高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
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X射線成像高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
產(chǎn)品名稱：X射線成像高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20250214-03
產(chǎn)品質(zhì)保：12個(gè)月
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：可以按照客戶要求非標(biāo)定制，以下為產(chǎn)品的可供參考的：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用說明，僅供參考，更多詳情請(qǐng)咨詢：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司
X光測(cè)試線對(duì)卡（X射線成像高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡）是一種專用于評(píng)估X射線成像系統(tǒng)空間分辨率的精密檢測(cè)工具，廣泛應(yīng)用于放射衛(wèi)生療影像設(shè)備（如DR、CT）、工業(yè)無損檢測(cè)及科研領(lǐng)域。該測(cè)試卡采用高精度鉛箔材質(zhì)制作，核心參數(shù)包括分辨率范圍0.6-5.0LP/mm（部分型號(hào)擴(kuò)展至10.0LP/mm或更高），鉛當(dāng)量覆蓋0.05mmPb至0.1mmPb，標(biāo)準(zhǔn)尺寸為50×50mm或30×60mm，內(nèi)含多組線對(duì)陣列，分組設(shè)計(jì)涵蓋1.0LP/mm至20LP/mm的階梯式分辨率檢測(cè)能力。其核心用途是通過模擬不同密度的線對(duì)結(jié)構(gòu)，在X射線曝光后觀察成像設(shè)備對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)的還原能力，從而量化系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）和高對(duì)比度分辨力性能，同時(shí)也可輔助判斷設(shè)備焦點(diǎn)尺寸與半影效應(yīng)影響。日常使用中需嚴(yán)格執(zhí)行維護(hù)規(guī)范，包括定期檢查線對(duì)磨損、清潔存儲(chǔ)盒體、更換干燥劑與活性炭吸附材料（周期不超過半年至一年），并完整記錄每次測(cè)試的分辨率數(shù)值及設(shè)備狀態(tài)，確保檢測(cè)數(shù)據(jù)的長(zhǎng)期可比性。該測(cè)試卡可以適配GB2099、IEC60664等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，可滿足疾控中心、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)X光機(jī)、CT設(shè)備的質(zhì)量控制需求，兼具操作便捷性與結(jié)果可靠性，是影像設(shè)備驗(yàn)收、年度校準(zhǔn)及故障診斷的關(guān)鍵工具。
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是否可以非標(biāo)訂制：可以按照客戶要求非標(biāo)定制：X射線成像高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20250214-03
