二度星卡
產(chǎn)品名稱:二度星卡
產(chǎn)品編號(hào):20250208-02
產(chǎn)品質(zhì)保:12個(gè)月
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:X射線測(cè)試二度星卡模體是一種用于評(píng)估X射線成像設(shè)備性能的檢測(cè)工具,其核心參數(shù)與功能設(shè)計(jì)緊密圍繞射線焦點(diǎn)質(zhì)量、分辨率及成像均勻性等關(guān)鍵指標(biāo)展開。該模體通常采用純度超過99.5%的鋁材作為基板,標(biāo)準(zhǔn)尺寸為350mm×350mm的正方形結(jié)構(gòu),厚度控制在20mm±0.1mm范圍內(nèi)以確保幾何精度。模體表面分布著多種功能區(qū)域,包括用于測(cè)試影像均勻性的五個(gè)20mm×20mm正方形區(qū)塊,這些區(qū)塊分別位于四角及中心位置,能夠量化檢測(cè)X射線在不同區(qū)域的能量分布一致性。幾何畸變檢測(cè)則通過260mm、300mm和340mm三組視野角標(biāo)線實(shí)現(xiàn),配合垂直軸與水平軸上間距2mm的分度標(biāo)尺,可分析成像系統(tǒng)的空間畸變與線性誤差。帶孔的低分鋁板作為模體的重要組成部分,設(shè)計(jì)了六個(gè)直徑為10mm的對(duì)比度線性測(cè)試孔及一個(gè)同等尺寸的不透射線標(biāo)靶,這些孔洞結(jié)構(gòu)能夠模擬不同材質(zhì)對(duì)射線的衰減特性,用于驗(yàn)證設(shè)備對(duì)低對(duì)比度物體的識(shí)別能力與動(dòng)態(tài)范圍表現(xiàn)。此外,模體還搭載了分辨率測(cè)試模塊,例如二度星卡型高分辨測(cè)試卡支持0.6-10.0lp/mm的線對(duì)檢測(cè),覆蓋從常規(guī)放射衛(wèi)生療設(shè)備到工業(yè)高精度檢測(cè)的多層次需求。在應(yīng)用層面,該模體廣泛用于X射線機(jī)、CT設(shè)備及便攜式檢測(cè)儀器的質(zhì)控環(huán)節(jié),通過分析焦斑形態(tài)、分辨極限和成像畸變等參數(shù),為放射衛(wèi)生療診斷準(zhǔn)確性、工業(yè)探傷可靠性提供量化依據(jù),同時(shí)滿足計(jì)量機(jī)構(gòu)、第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室及設(shè)備生產(chǎn)商的校準(zhǔn)需求。其標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)使得操作者無需復(fù)雜流程即可快速獲取設(shè)備性能數(shù)據(jù),成為X射線成像領(lǐng)域不可或缺的基準(zhǔn)測(cè)試工具。
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是否可以非標(biāo)訂制:可以按照客戶要求非標(biāo)定制:二度星卡
產(chǎn)品編號(hào):20250208-02