低對比度分辨力測試板

低對比度細節檢測模體包含多達405個可以產生微小對比變化的孔，可以同時量 化細節和對比度，適用于整體放射診斷影像系統，廊坊玉雙儀器設備有限公司是實體生產廠家，可以為客戶定制各種實驗設備和實驗裝置。實驗檢測裝置生產銷售編號：：20230310-04。

1、放置在探測器上面,應用合適條件進行曝光。

2、模體上含有15行和15列方形區分布225個方格組成的矩陣,每個方格鐘  前三行僅有1個檢查點(成像點),其他行有2個檢測點，1個在方格央,另1個隨*分布在1個角落鐘  ,共計405個地對比度孔。

3、檢查點的光密度比之均勻背景光密度高,檢測點深度和直徑呈對數變化,直徑范圍:0.3--8.0mm ,深度范圍: 0.3-8.0mm (精度: 0.01mm )

低對比度細節模體構成：每個單一直徑都有其獨*的金的優化厚度范圍，具有16個不同的厚度級別；0.5毫米厚純鋁基板（純度：99.5%）；基板上由不同厚度純金箔組成，排成16排和21行；金箔厚度范圍：0.012～2.8μm, 誤差：±3%。

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參數：1.尺寸：265 X 265 X 10mm

2.材質：PMMA

3.包含15行和15列總225個低對比度細節模塊，每個模塊中有1-2個細節孔以形成影像。行每個方塊中只有1個細節孔，其他行有2個相同的細節孔，1個在中心，另外1個隨機分布在4個角落中，總計405個細節孔。

4.細節孔的光密度比均勻背景光密度高，細節孔深度和直徑呈對數變化

5.孔直徑：0.3 - 8.0mm，孔深度：0.3 - 8.0mm，尺寸精度：0.01mm

6.模體上所有標記不透明，適用于X射線成像

7.包含1塊0.5mm厚銅板，1塊1mm厚銅板