高對比度分辨力測試卡
分辨率測試卡，致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。空間分辨率線對卡
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分辨率測試卡，致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。空間分辨率線對卡定制生產廠家：廊坊玉雙儀器設備有限公司，產品銷售編號：20230204-02。
分辨率
圖像中恰好能分開的細節之間的距離;通常用單位寬度范圍內可識別的線對數表示,單位是每毫米線對數(LP/mm)。
調制傳遞函數
描繪輸出信息量與輸入信息量變化關系的響應函數,是成像系統對輸入信息的傳遞和轉換功能。主要反映的是影像信息的再現率。
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。離射線源較近一側的表面上,按照一定的工藝條件進行透照,經暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影像,則該組線對所對應的線對數即為底片(或照相系統)的分辨率。
分辨率測試卡，致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。空間分辨率線對卡定制生產廠家：廊坊玉雙儀器設備有限公司，產品銷售編號：20230204-02。
分辨率
圖像中恰好能分開的細節之間的距離;通常用單位寬度范圍內可識別的線對數表示,單位是每毫米線對數(LP/mm)。
調制傳遞函數
描繪輸出信息量與輸入信息量變化關系的響應函數,是成像系統對輸入信息的傳遞和轉換功能。主要反映的是影像信息的再現率。
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。離射線源較近一側的表面上,按照一定的工藝條件進行透照,經暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影像,則該組線對所對應的線對數即為底片(或照相系統)的分辨率。
分辨率測試卡，致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。空間分辨率線對卡定制生產廠家：廊坊玉雙儀器設備有限公司，產品銷售編號：20230204-02。
分辨率
圖像中恰好能分開的細節之間的距離;通常用單位寬度范圍內可識別的線對數表示,單位是每毫米線對數(LP/mm)。
調制傳遞函數
描繪輸出信息量與輸入信息量變化關系的響應函數,是成像系統對輸入信息的傳遞和轉換功能。主要反映的是影像信息的再現率。
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
線對卡是對X射線的成像進行分辨力進行測試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對對X射線的成像的圖像進行檢測，把線對卡至于X射線影像設備之下進行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個線對的數量作為衡量射線設備的分辨力能力時候滿足日常檢測的分辨率的需要。離射線源較近一側的表面上,按照一定的工藝條件進行透照,經暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影像,則該組線對所對應的線對數即為底片(或照相系統)的分辨率。
