無損檢測(cè)線對(duì)卡
產(chǎn)品編號(hào):20220304.06
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無損檢測(cè)線對(duì)卡
產(chǎn)品編號(hào):20220304.06
產(chǎn)品銷售廠家:固安縣雙玉儀器有限公司
線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置,該裝置通過其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè),把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像,然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。
X射線影像診斷
定義:是指利用X射線的穿透等性質(zhì)取得人體內(nèi)與組織的影像信息以診斷疾病的技術(shù)。
組成:X射線:投影到熒光屏上X射線攝影:顯象在膠片上,稱X
線照相。
標(biāo)準(zhǔn)配置:線對(duì)卡1個(gè),操作說明書1份,保護(hù)袋1個(gè)
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
吸附材料:Au線,厚度≥1.0μm
保護(hù)膜:聚酯薄膜,T 0.05mm
線與空間大小:3,4,5,6,7,8,9,10μm(T形布局)
2個(gè)圖案:15,20,25,30,35,40,45,50μm(僅為形狀)
L/S寬度:士15%(3, 4μm)
容度:士10%(5μm及更寬)
線數(shù):每3行集
其他相關(guān)產(chǎn)品光野射野一致性檢測(cè)板 低對(duì)比度檢測(cè)模體 濾線柵準(zhǔn)直檢測(cè)裝置 低對(duì)比度分辨率測(cè)試板 濾線柵準(zhǔn)直檢測(cè)板 垂直度檢測(cè)筒 準(zhǔn)直筒 光密度計(jì) 二度星卡 等設(shè)備和檢測(cè)工具。
更多產(chǎn)品的相關(guān)信息請(qǐng)咨詢銷售廠家:固安縣雙玉儀器設(shè)備有限公司的線對(duì)卡銷售的相關(guān)工作人員。我們將全程為您解答您遇到的難題。歡迎您的到來!!
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產(chǎn)品銷售廠家:固安縣雙玉儀器有限公司
無損檢測(cè)線對(duì)卡
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線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置,該裝置通過其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè),把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像,然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。
X射線影像診斷
定義:是指利用X射線的穿透等性質(zhì)取得人體內(nèi)與組織的影像信息以診斷疾病的技術(shù)。
組成:X射線:投影到熒光屏上X射線攝影:顯象在膠片上,稱X
線照相。
標(biāo)準(zhǔn)配置:線對(duì)卡1個(gè),操作說明書1份,保護(hù)袋1個(gè)
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
吸附材料:Au線,厚度≥1.0μm
保護(hù)膜:聚酯薄膜,T 0.05mm
線與空間大小:3,4,5,6,7,8,9,10μm(T形布局)
2個(gè)圖案:15,20,25,30,35,40,45,50μm(僅為形狀)
L/S寬度:士15%(3, 4μm)
容度:士10%(5μm及更寬)
線數(shù):每3行集
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定義:是指利用X射線的穿透等性質(zhì)取得人體內(nèi)與組織的影像信息以診斷疾病的技術(shù)。
組成:X射線:投影到熒光屏上X射線攝影:顯象在膠片上,稱X
線照相。
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硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
吸附材料:Au線,厚度≥1.0μm
保護(hù)膜:聚酯薄膜,T 0.05mm
線與空間大小:3,4,5,6,7,8,9,10μm(T形布局)
2個(gè)圖案:15,20,25,30,35,40,45,50μm(僅為形狀)
L/S寬度:士15%(3, 4μm)
容度:士10%(5μm及更寬)
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