線對卡30lp/mm

產品編號：20211126-09

銷售產家：固安縣雙玉儀器有限公司

X射線是一種波長極短，能量很大的電磁波，X射線的波長比可見光的波長更短(約在0.001~100納米，醫學上應用的X射線波長約在0.001~0.1納米之間)，它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。

綜合測試卡

綜合測試卡構成見表3,綜合測試卡在射線探傷機、工業CT、醫用CT、醫用X光診斷設備安裝、調試中常用到。圖4為星形測試卡。

綜合測試卡可用于檢測圖像的分辨率、圖像畸變程度、常用灰度等級、亮度、對比度。星形測試卡除上述功能外,還可以用于測量射線源的焦點尺寸。這類測試卡是射線機、工業CT、醫用CT、醫用X光診斷設備的安裝、調試、檢測、維修、保養不可少的工具。

檢驗方法

鉛箔厚度試驗

將測試卡與事先測定厚度的鉛箔并列放置,用X線攝影(攝影條件可選擇適當的管電壓一般為80kVp,調節MAS值時膠片鉛箔部分的密度為0.7左右。比較膠片的黑化程度,調整測試卡的厚度。

辨率范圍：

0.6-5.0 l p/mm  0.6-10.0lp/mm

更多的分辨率要求，。

鉛當量：0.01PB  0.05PB

線和間距/線寬：3至50 um，16英寸

16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局

上圖為大小為5μm L&S的圖像。

Au狹縫數為3行2空間。

本公司經營線對卡業務和其他相關產品的業務，更多產品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會給您更加滿意的解答，期待您的到來。

產品編號：20211126-09

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